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Nicomp Z3000 纳米粒度及电位分析仪
Nicomp Z3000 纳米粒度及电位分析仪

·测量范围:0.3nm-10.0μm

·工作原理:动态光散射

·电位范围:0.3nm-100μm

·检测角度:10°-175°多角度检测及高浓度背光散射

·电源选项:220-240V,50Hz

·最小测样量:10微升